RC2是J.A.Woollam公司的最新的光谱椭偏仪产品。可应用于各种各向同性/异性薄膜材料膜厚、光学纳米光栅常数以及一维/二维纳米光栅材料结构的表征分析。

设备特点：

• 采用双旋转补偿器，高精度快速测量。

• 采用消色差补偿器，性能更优化。

• 先进的光源，计算机可控输出光强。

• 先进的光束对准系统，数据测量更准确。

• 波长范围：193-1690nm（分辨率：1nm）

• 测量速度：典型数据全光谱测量不超过1秒。

• 温度范围：-70~600℃•变角范围：45°~ 90°

RC2光谱椭偏仪

样品热台——加热样品，温度范围-70-600℃，需要通入氩气或氦气防止样品发生高温氧化

Linkam温度控制仪

液氮罐—液氮用来冷却样品，亦辅助控制温度